IC解析・検査サービス

ICの機能の複雑多岐化と、高性能・精密化に伴い、アークテイクでは、お客様に十分満足していただける製品をお届けすべく技術サポートと品質管理に対応できる部門を設けております。

・ ICメモリーの機能確認、アクセスタイムなどの測定 ・ 伝送ラインの誤動作の原因究明 ・ オペアンプの動作不良原因究明 ・ オペアンプ等のメーカー企画と応用回路の比較検討 ・ 各種ICの開封・チップ表面の観察、撮影 電気的オーバー・ストレスによる焼損 表面キズ アルミ配線の腐食 ワイヤーボンディングの状態 ショート跡 マイグレーションなどの観察 ・ デジタルICのAC項目測定 ・ ADCの機能不良解析

・ オペアンプのオフセット電圧などの選別 ・ オペアンプのポップコーン・ノイズなどの選別 ・ ICメモリーの動作確認検査 ・ 電源用ICの検査 ・ トランジスターのhFE選別、耐圧選別 ・ 各種ICのDC、AC項目のロット間の分布（バラツキ）などの調査測定 検査項目、選別項目などについてはデータシート規格表に規制されていない項目についてもお気軽にご相談ください。 不具合解析には電気的測定結果、チップ表面観察写真、推定不具合原因、今後の対策などを記した報告書を提出致します。 詳細は、IC解析・検査サービス問い合わせページよりご連絡ください。迅速な対応をさせていただきます。